Ti Base Scan Abutment

Erhältlich für fast alle Kompatibilitäten.

Das DESS® Ti-Base Scanning Abutment bietet Ihnen im Vergleich zu anderen DESS® Abutments eine hohe Flexibilität bei hoher Bildgenauigkeit.

Darüber hinaus kann das gleiche Sekundärteil in 27 verschiedenen Verbindungen verwendet und beliebig oft wiederverwendet werden.

Sie können die Datei in unserem Bereich "Downloads" herunterladen. Wenn Sie Fragen haben, zögern Sie nicht, uns zu kontaktieren.
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